淺析斷路器機(jī)械特性測(cè)試儀的非接觸方式

上一篇我們講道了斷路器機(jī)械特性測(cè)試儀的基于過程測(cè)量法，今天呢小編給大家?guī)淼氖顷P(guān)于斷路器機(jī)械特性測(cè)試儀的非接觸方式詳細(xì)說
明，以下就由小編為你詳細(xì)的講解一下吧
斷路器機(jī)械特性測(cè)試儀的非接觸方式
斷路器機(jī)械特性測(cè)試儀利用過程測(cè)量方式，斷路器機(jī)械特性測(cè)試儀不僅可實(shí)現(xiàn)對(duì)參數(shù)的科學(xué)測(cè)試，還可實(shí)現(xiàn)對(duì)高壓斷路器機(jī)械特性中位移、速度的非接觸測(cè)試。
目前，斷路器機(jī)械特性測(cè)試儀在位移、速度的測(cè)試方面基本都采用接觸方式來獲得高壓斷路器的位移、速度信息，也就是必須將位移傳感器接觸安裝在斷路器的聯(lián)動(dòng)部分，通過接觸斷路器的運(yùn)動(dòng)來感受其運(yùn)動(dòng)信息。由于高壓斷路器的結(jié)構(gòu)和形狀各異，因此該方式在現(xiàn)場(chǎng)的測(cè)試中十分困難，甚至不可能實(shí)現(xiàn)。
利用光反射偏移原理可實(shí)現(xiàn)對(duì)高壓斷路器速度、位移的非接觸測(cè)試。光電測(cè)量位移、速度
被測(cè)物體在從位置h2運(yùn)動(dòng)到位置h1時(shí)，通過被測(cè)物體反射到測(cè)試平面的光線從S2運(yùn)行到S1 ，通過幾何關(guān)系很容易算出被測(cè)物體的位移h=h1-h2與測(cè)試平面的感受位移S=S1-S2之間的關(guān)系h=S/(2tgθ)由于θ值是已知的，S是可測(cè)量的，所以，可以通過反射光的偏移位移得到被測(cè)物體本身的位移h。由于光的速度很快，只要測(cè)試平面的掃描速度足夠快（20 kHz即50μs）即能夠?qū)\(yùn)動(dòng)物體的位移、速度實(shí)現(xiàn)非接觸測(cè)試。
實(shí)現(xiàn)位移、速度非接觸測(cè)試的好處:①不需現(xiàn)場(chǎng)煩瑣的安裝；②適應(yīng)所有的結(jié)構(gòu)（不包括沒有外露聯(lián)動(dòng)機(jī)構(gòu)的）；③免受劇烈震動(dòng)的干擾；④不對(duì)斷路器的動(dòng)作造成任何障礙。
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